氮化鎵(GaN)有什麼厲害的?

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市面上有著越來越多氮化鎵的電子產品,銷售人員也常有自信的說:「我們的產品是氮化鎵製作的!」但是你真的知道氮化鎵是什麼嗎?氮化鎵比起傳統半導體材料「矽」有著大的能隙與更高的電子遷移率,因此能承受更高的電壓,還能進行高頻率的切換,因此,氮化鎵充電器可以擁有更高速度的充電效率,還能讓設備更加輕便,讓我們來認識氮化鎵的物理特性以及製作過程吧!

撰文|黃鼎鈞

矽(Si),被譽為「半導體之母」,因其豐富的含量、良好的熱穩定性以及天然的二氧化矽覆蓋層,長期以來在半導體領域中佔據主導地位(更多關於Si的內容請參考《一「矽」之間,半導體代言人走下神壇》)。然而,隨著科技的飛速發展,現代電子元件對於高效能、高頻率、小體積的需求不斷增加,矽基元件的侷限性越來越難以應對這些新需求,氮化鎵 (GaN) 作為新興的半導體材料,正逐漸挑戰矽在這一領域中的地位,市面上有越來越多的電源供應器以GaN為賣點,那麼GaN到底有哪些優勢,讓它備受青睞呢?

圖1:行動充電器示意圖|來源:Dell-E AI model

 

GaN vs Si:能隙的優勢

GaN與Si最大的區別在於它們的能隙大小,能隙可以比作電子移動的「能量門檻」:電子需要具備足夠的能量才能通過這個門檻,進而在材料中導電。矽的能隙為1.1電子伏特(eV),而GaN的能隙達到3.4 eV,屬於寬能隙材料,因此,GaN能夠承受更高的電壓而不會發生擊穿(即電子失控地通過材料),並且能夠在高溫環境中穩定運行,材料不容易因為環境溫度變高而漏電,這使GaN適合應用於電壓高或工作溫度高的設備,如電源轉換器和電動車充電器,此外,GaN的電子遷移率是矽的五倍,這讓GaN元件能更快速地傳輸電子並進行開關操作,尤其適用於需要高頻率操作的環境,如5G通訊基站。

表1:Si和GaN的特性比較,可以看到除了熱導率之外,GaN皆有著更優異的導電性|來源:修改自參考資料[1]
GaN在日常生活中的應用

為什麼GaN的電源供應器如此受歡迎?首先,GaN的寬能隙允許其承受更大的輸入電壓,從而實現更快的充電速度,就像使用高壓水槍能更快速地填滿水桶一樣,GaN可以迅速將能量傳輸至設備,其次,GaN擁有較低的導通電阻,這意味著當電流通過元件時,產生的能量損耗更少,直接提升了整體充電效率,第三,GaN具有更快的開關速度,可以更高效地完成電力轉換,減少能量浪費並縮短充電時間,這些特性使得GaN充電器在提供強大的功率輸出的同時,又能使元件變得更輕巧容易攜帶,同時GaN的高溫穩定性也避免了充電器過熱失效,進一步強化了產品的耐用性,除了行動充電器,GaN技術促進了電動汽車的發展,電動車的電源轉換系統要求高效能和高功率密度,而GaN憑藉其高效的功率轉換能力,加上其耐熱的特性,成為車載充電器的理想選擇。

圖2:電動汽車|來源:Wikimedia Commons

 

GaN的挑戰與瓶頸

儘管GaN在許多方面超越了矽,但它也並非沒有缺點,首先,雖然GaN在高溫下具有良好的熱穩定性,但其熱導率卻低於矽,這在高頻運行時容易導致元件過熱,影響其性能,其次,在晶體生長過程中,GaN較容易產生缺陷,這些缺陷會捕捉到電子或電洞,就像人在走在泥濘不平的道路上一樣,電子在運行時可能會「掉進陷阱」,導致導電性下降,進而影響元件的效率,這也使得製造高品質的GaN材料成本較高,阻礙了其大規模商業化的進程。

 

GaN如何製作?氫化物氣相外延法與氨熱法

目前主要有兩種製程技術:氫化物氣相外延法(HVPE)和氨熱法(Ammonothermal),HVPE利用氫氣作為載氣,將氯化氫(HCl)與鎵(Ga)反應生成高揮發性的氯化鎵(GaCl),然後與氨(NH₃)反應,生成GaN晶體。整個過程在高溫(約1000°C)下進行,雖然HVPE能夠快速生長大量的GaN,但容易產生裂縫和晶格缺陷,無法生成高品質的晶體材料;氨熱法則利用超臨界氨作為溶劑,超臨界氨是一種在高壓高溫條件下既具有液體的溶解能力,也具備氣體的擴散性,透過氨溶解鎵並逐步沉積GaN晶體,氨熱法能夠在較低的溫度下進行,節省能源並降低成本,與HVPE相比,氨熱法生成的GaN缺陷密度較低,但其生長速度較慢,且工藝相對複雜,因此更適合用於高品質的應用需求。

 

結 語

GaN以其優異的能隙特性和高電子遷移率,在高效能電力轉換應用中展現出巨大的潛力,無論是在行動充電器還是電動車充電系統中,GaN都提供了更高的充電速度、更小的體積以及更強的耐用性,隨著技術的進步,GaN的製造工藝將會逐漸成熟,成本也將進一步下降,這將推動GaN在更多電子產品中的應用。

 


參考文獻

  1. Flack, T. J., Pushpakaran, B. N., & Bayne, S. B. (2016). GaN technology for power electronic applications: A review. Journal of Electronic Materials, 45, 2673-2682.
  2. Buffolo, M., Favero, D., Marcuzzi, A., De Santi, C., Meneghesso, G., Zanoni, E., & Meneghini, M. (2024). Review and outlook on GaN and SiC power devices: industrial state-of-the-art, applications, and perspectives. IEEE Transactions on Electron Devices.
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