掃描穿隧式顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope，STM）儀器架構
掃描穿隧式顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope，STM）儀器架構
國立臺灣師範大學物理系曾鈺潔碩士生/國立臺灣師範大學物理系蔡志申教授責任編輯
掃描穿隧式顯微鏡（STM）為何可以利用探針與樣品間的距離來顯示樣品表面影像，已在本討論區的文章–『掃描穿隧式顯微鏡原理』中說明，在此將對實際儀器架構的內容加以解說。
掃描穿隧式顯微鏡架構的示意圖如下。（圖片來源：維基百科）
Scanning Tunneling Microscope，STM
掃描穿隧式顯微鏡原理
掃描穿隧式顯微鏡原理 (Scanning Tunneling Microscope，STM)
國立臺灣師範大學物理系曾鈺潔碩士生/國立臺灣師範大學物理系蔡志申教授責任編輯
掃描穿隧式顯微鏡 (STM) 是利用量子穿隧效應 (quantum tunneling effect) 探測晶體表面原子結構的儀器。其發明的原由皆在本站文章–「顯微鏡發展歷史–掃描穿隧式顯微鏡的誕生」中陳述；此文將進一步討論掃描穿隧式顯微鏡的設計原理。